ГлавнаяНовостиКаталог оборудованияУслугиВопросы и ответыКонтактыПрайс-лист
г. Москва, тел. +7 (495) 532-09-99
Время работы: 9:00 - 18:00 Пн-Пт
Контрольно измерительные приборы, электроизмерительные приборы, измерительные приборы, КИПиА, измерительное оборудование, испытательное оборудование, приборы для измерения, измерители
Каталог измерительных приборов
Антенны
Измерительные антенны

Продукция SONEL
Комплекты для испытания автоматических выключателей и релейных защит
Приборы для измерения параметров электроизоляции
Приборы для поиска мест электрических разрядов и утечек
Приборы для измерения времени и тока отключения УЗО
Приборы для измерения параметров петли короткого замыкания
Приборы для измерения параметров заземляющих устройств
Омметры, Микроомметры
Приборы для анализа качества электроэнергии
Приборы электроизмерительные многофункциональные
Приборы для поиска кабеля и мест повреждения кабеля
Ультрафиолетовые камеры
Пирометры
Люксметры
Эталонное оборудование SONEL

Радиоизмерительные приборы
Аудиоанализаторы
Анализаторы спектра
Аттенюаторы (в т.ч. Д1,Д2,Д3,Д5)
Анализаторы полупроводников
Анализаторы цепей
Генераторы сигналов
Измерители RLC, импеданса, индуктивности
Измерители АЧХ, шума и вибрации
Измерители КСВН (в т.ч. Р1,Р2,Р4)
Измерители модуляции и девиации частоты
Измерители мощности (в т.ч. М3)
Измерители параметров поля и антенн
Измерители нелинейных искажений
Измерители разности фаз
Источники питания (в т.ч. Б2,Б5...)
Расходомеры и уровнемеры
Осциллографы
Частотомеры, стандарты частоты
Вольтметры
Мультиметры, электроанализаторы
Лабораторное и научное оборудование
Тестеры для систем мобильной радиосвязи

Электроизмерительные приборы
Вольтамперметры
Измерительные мосты
Измерители сопротивления
Приборы комбинированные
Измерительные усилители
Меры и магазины
Испытательное оборудование
Комплекты измерительные
Трансформаторы, автотрансформаторы

Оборудование для систем и сетей связи
Приборы для систем и сетей связи

Дозиметрические приборы
Измерители мощности дозы

Генераторные лампы
Генераторные лампы (в т.ч. ГУ-36Б1, ГУ-...)

Тепловизоры
Тепловизоры

Приборы для диагностики кабельных линий и трубопроводов
Трассоискатели, течеискатели
Диагностика ADSL, Оптические рефлектометры
Измерители параметров кабельных линий (Рефлектометры)

Электронные нагрузки
Электронные нагрузки

Телекоммуникационное оборудование
Телекоммуникационное оборудование

Защита информации
Системы обнаружения оптических устройств
Системы оценки защищенности от утечки по техническим каналам
Сканирующие приемники

Трубопроводная арматура
Электроприводы трубопроводной арматуры
Задвижки с электроприводом
Клапаны регулирующие
КИПиА

Геодезическое оборудование
Геодезические GNSS приемники
Тахеометры
Нивелиры
Теодолиты
Сканирующие системы

Газоанализаторы
Газоанализаторы

Оснащение рабочих мест
Оснащение рабочих мест


Классификация радиоизмерительных приборов по ГОСТ 15094-69
Федеральный закон РФ 2008 года No.102-ФЗ “ Об обеспечении единства измерений”


JEOL JIB-4610F Растровый электронный микроскоп

Модель: JEOL JIB-4610F Растровый электронный микроскоп
Наличие: на складе
Задать вопрос по товару
JEOL JIB-4610F Растровый электронный микроскоп
 
Двулучевая система, представляющая собой термополевой растровый электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления. 
 
JIB-4610F – это двулучевая система, представляющая собой термополевой растровый электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления.

Стабильная, надежная электронно-оптическая колонна обеспечивает высокое разрешение (1,2 нм при 30 кВ в режиме регистрации вторичных электронов) и позволяет анализировать морфологию объектов наномира. Термополевой катод обеспечивает высокие и стабильные токи пучка, что позволяет проведение экспериментов, требующих высоких токов пучка (элементного анализа с использованием спектрометра с волновой дисперсией, получения картин дифракции отраженных электронов, катодолюминесцентных исследований и т.п.). Режим торможения пучка над поверхностью образца делает JIB-4610F прекрасным инструментом для работы с диэлектриками или чувствительными к воздействию электронного луча образцами.

Ионная колонна JIB-4610F сконструирована компанией JEOL специально для систем такого класса. Она отличается высокой надежностью, обеспечивает высокое разрешение изображений при работе в режиме наблюдения и высокие токи пучка (до 90 нА) при работе в режиме травления.

Помимо всех типов исследований, традиционно проводимых с помощью РЭМ, JIB-4610F позволяет обрабатывать ионами и утонять образцы, предназначенные для дальнейших исследований методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, проверять их качество. После проверки и/или обработки образцов в JIB-4610F, их можно переносить в ПЭМ или РЭМ напрямую, не демонтируя с держателей, а значит, не подвергая риску повреждений.

JIB-4610F комплектуется шлюзовой камерой, которая существенно снижает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления, существенно продлевает срок службы эмиттеров и диафрагм обеих колонн.
 
Двухлучевую систему JIB-4610F можно дооснастить множеством разнообразных приставок. Они позволяют проводить напыление углеродом, вольфрамом и платиной, проводить ионное травление по заданному шаблону (ионную литографию), работать с держателями электронных микроскопов и микроанализаторов, даже старых моделей. Подключение таких опций, как энергодисперсионный спектрометр и детектор дифракции отраженных электронов, позволяет проводить послойный анализ элементного и фазового состава образцов.

Использование наноманипуляторов Omniprobe дает возможность проводить следующие операции в вакуумированной камере образцов прибора:
 
• Перемещать образцы с точностью до нескольких нанометров; 
• Выкладывать из наночастиц и нановолокон узоры заданной формы; 
• Измерять электрические параметры различных нанообъектов; 
• Рассматривать с различных ракурсов тонкие кристаллы, приготовленные для дальнейших исследований в ПЭМ; 
• Снимать заряд с непроводящих образцов; 
• Производить микроразрезы в биологических образцах; 
• Отделять малые образцы от массива для проведения более точного микроанализа их элементного и фазового состава.

Основные преимущества:


• Стабильная, высоконадежная электронно-оптическая колонна обеспечивает высокое разрешение (1,2 нм при 30 кВ в режиме регистрации вторичных электронов); 
• Термополевой катод, известный также как катод Шоттки, обеспечивает высокие (свыше 200 нА) и стабильные токи пучка, что позволяет использовать JIB-4610F и в качестве аналитического РЭМ; 
• Специальная конструкция первой конденсорной линзы позволяет намного более эффективно собирать эмитированные катодом электроны и обеспечивает длительный срок службы электронной пушки (более 3 лет); 
• Стабильная, надежная, высокопроизводительная ионная колонна специальной конструкции, позволяющая в режиме травления быстро стравливать большие объемы материала, а в режиме наблюдения обеспечивающая высокое разрешение получаемых микрофотографий (4 нм с использованием детектора вторичных электронов); 
• Наличие шлюзовой камеры, которая существенно снижает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, электронной и ионной колонн, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления, продлевает срок службы катодов и диафрагм в несколько раз; 
• Возможность напыления образцов углеродом, вольфрамом и платиной; 
• Возможность работы с образцами, уже установленными на держатели растровых и просвечивающих электронных микроскопов без риска их повреждения при монтаже-демонтаже; 
• Наличие программного обеспечения для проведения ионной литографии; 
• Использование криогенной приставки (опция) существенно уменьшает тепловые повреждения чувствительных к действию ионного пучка материалов, а также позволяет работать с замороженными биологическими образцами, содержащими воду; 
• Использование специальных держателей дает возможность быстрого переноса образцов из JIB-4610F в просвечивающие электронные микроскопы JEOL. 
Лабораторное и научное оборудование:
  • Ш2-12ТМ Измеритель диэлектрических параметров трансформаторного масла
  • Диатранс Комплекс для измерения электрических характеристик масел
  • Микротвердомер ПМТ-3М
  • Монохроматор МДР-204, МДР-206
  • Металлографический микроскоп МИМ-10
  • АИП-21 Оборудование анализа нефтепродуктов
  • Калориметр В-08-МА
  • Рефрактометр РП-2В
  • Рефрактометр ABBE Atago 2T-HI
  • Рефрактометр ABBE Atago 2T-LO
  • Рефрактометр ABBE Atago 1T-LO
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M2
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M4
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M2|1550
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M4|1550
  • Olympus BX61 Микроскоп исследовательский
  • Olympus IX71 Микроскоп исследовательский
  • Olympus IX81 Микроскоп исследовательский
  • Автоматический цифровой рефрактометр Atago RX-007 alpha
  • Рефрактометр Atago RX-7000 alpha
  • Автоматический цифровой рефрактометр Atago RX-9000 alpha
  • Binder KBF LQC 240 Климатическая камера постоянных условий
  • Binder KBF LQC 720 Климатическая камера постоянных условий
  • Espec SH-242 Климатическая камера
  • Микровизор mVizo-103
  • Микроскоп Биомед 6 ПО
  • JEOL JIB-4610F Растровый электронный микроскоп
  • ПОИСК-600 Поверочный и измерительный комплекс
  • АИМ-90А Аппарат испытания масла
  • РМГ-МГ4 Машина испытательная
  • Olympus BX53 Микроскоп исследовательский, объективы План Ахромат 10х, 40х, 100хМИ
  • Olympus BX53 Микроскоп исследовательский, объективы План Полу Апохромат (План Флуорит) 10х, 40х, 100хМИ
  • Olympus BX63 Микроскоп исследовательский
  • Surgitron Dual EMC 90 Радиохирургический аппарат
  • Surgitron DF S5 Высокочастотный радиоволновой хирургический генератор
  • Микроскоп Метам РВ-34
  • Микроскоп ММР-2
  • Микровизор mVizo-101
  • Безэховый шкаф для электромагнитного излучения MY1510
  • Безэховый шкаф для электромагнитного излучения MY5220
  • Шкаф для электромагнитного излучения ME8661A
  • Анализатор влажности Sartorius МА-35
  • Анализатор влажности Sartorius МА-100
  • Анализатор влажности Sartorius МА-150
  • Анализатор влажности MS-70 A&D
  • Проборазделочная машина ПА-10М
  • Плазменный аппарат Мультиплаз-3500
  • JEOL JSM-7500F Растровый электронный микроскоп
  • Дефектоскоп АКС А1212 Мастер Профи
  • JEOL JAMP-9510 Оже-микроанализатор
  • JEOL JSM-IT300 Растровый электронный микроскоп
  • JEOL JSM-7800F Растровый электронный микроскоп высокого разрешения
  • JEOL JSM-6510 Растровый электронный микроскоп
  • MS5201, MS5201i, MS5204, MS5204i Дифракционный монохроматор спектрограф
  • Olympus BX43 Микроскоп исследовательский, окуляры 10х/22, объективы 10х, 40х, 100хМИ ПланПолуАПОхромат
  • Olympus BX43 Микроскоп исследовательский, окуляры 10х/20, микрометр окулярный, объективы 10х, 40х, 100хМИ План C Ахромат
  • Olympus CKX31 Микроскоп лабораторный
  • Olympus CX31 Микроскоп лабораторный
  • Olympus CKX41 Микроскоп лабораторный
  • Espec SH-662 Климатическая камера
  • Измеритель температуры Hioki LR8400-20
  • JEOL JSM-7610F Растровый электронный микроскоп
  • Аналогово-цифровой преобразователь QMBox80-15
  • ИИРТ-5М Прибор для измерения индекса расплава термопластов
  • Измерительный микроскоп MarVision MM 320
  • ИМЧ-01 Измеритель мощности и частоты



  • Главная | Новости | Каталог оборудования | Услуги | Вопросы и ответы | Контакты | Прайс-лист
    Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика
    Copyright © 2000-2020. All Right Reserved. При копировании материала на другие ресурсы ссылка на www.servicepribor.ru обязательна.