ГлавнаяНовостиКаталог оборудованияУслугиВопросы и ответыКонтактыПрайс-лист
г. Москва, тел.
Время работы: 9:00 - 18:00 Пн-Пт
Контрольно измерительные приборы, электроизмерительные приборы, измерительные приборы, КИПиА, измерительное оборудование, испытательное оборудование, приборы для измерения, измерители
Каталог измерительных приборов
Антенны
Измерительные антенны

Продукция SONEL
Комплекты для испытания автоматических выключателей и релейных защит
Приборы для измерения параметров электроизоляции
Приборы для поиска мест электрических разрядов и утечек
Приборы для измерения времени и тока отключения УЗО
Приборы для измерения параметров петли короткого замыкания
Приборы для измерения параметров заземляющих устройств
Омметры, Микроомметры
Приборы для анализа качества электроэнергии
Приборы электроизмерительные многофункциональные
Приборы для поиска кабеля и мест повреждения кабеля
Ультрафиолетовые камеры
Пирометры
Люксметры
Эталонное оборудование SONEL

Радиоизмерительные приборы
Аудиоанализаторы
Анализаторы спектра
Аттенюаторы (в т.ч. Д1,Д2,Д3,Д5)
Анализаторы полупроводников
Анализаторы цепей
Генераторы сигналов
Измерители RLC, импеданса, индуктивности
Измерители АЧХ, шума и вибрации
Измерители КСВН (в т.ч. Р1,Р2,Р4)
Измерители модуляции и девиации частоты
Измерители мощности (в т.ч. М3)
Измерители параметров поля и антенн
Измерители нелинейных искажений
Измерители разности фаз
Источники питания (в т.ч. Б2,Б5...)
Расходомеры и уровнемеры
Осциллографы
Частотомеры, стандарты частоты
Вольтметры
Мультиметры, электроанализаторы
Лабораторное и научное оборудование
Тестеры для систем мобильной радиосвязи

Электроизмерительные приборы
Вольтамперметры
Измерительные мосты
Измерители сопротивления
Приборы комбинированные
Измерительные усилители
Меры и магазины
Испытательное оборудование
Комплекты измерительные
Трансформаторы, автотрансформаторы

Оборудование для систем и сетей связи
Приборы для систем и сетей связи

Дозиметрические приборы
Измерители мощности дозы

Генераторные лампы
Генераторные лампы (в т.ч. ГУ-36Б1, ГУ-...)

Тепловизоры
Тепловизоры

Приборы для диагностики кабельных линий и трубопроводов
Трассоискатели, течеискатели
Диагностика ADSL, Оптические рефлектометры
Измерители параметров кабельных линий (Рефлектометры)

Электронные нагрузки
Электронные нагрузки

Телекоммуникационное оборудование
Телекоммуникационное оборудование

Защита информации
Системы обнаружения оптических устройств
Системы оценки защищенности от утечки по техническим каналам
Сканирующие приемники

Трубопроводная арматура
Электроприводы трубопроводной арматуры
Задвижки с электроприводом
Клапаны регулирующие
КИПиА

Геодезическое оборудование
Геодезические GNSS приемники
Тахеометры
Нивелиры
Теодолиты
Сканирующие системы

Газоанализаторы
Газоанализаторы

Оснащение рабочих мест
Оснащение рабочих мест


Классификация радиоизмерительных приборов по ГОСТ 15094-69
Федеральный закон РФ 2008 года No.102-ФЗ “ Об обеспечении единства измерений”


JEOL JSM-IT300 Растровый электронный микроскоп

Модель: JEOL JSM-IT300 Растровый электронный микроскоп
Наличие: на складе
Задать вопрос по товару

JEOL JSM-IT300 Растровый электронный микроскоп

Госреестр  60731-15

Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур. РЭМ с электронно-оптической системой высокопроизводительный аналитический многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

На корпусе микроскопа предусмотрено множество портов, это позволяет одновременно устанавливать различные дополнительные системы анализа, такие как: система энергодисперсионного анализа, система волнодисперсионного анализа, система дифракции обратно-рассеяных электронов или несколько детекторов энергодисперсионного анализа, что превращает микроскоп в универсальный аналитический комплекс. Также возможна установка системы катодолюминисценции, рентгеновской томографии, различных систем индентирования и.т.д.

Микроскоп оборудован большой камерой образцов, позволяющей исследовать образцы диаметром до 200 мм и высотой 80 мм. Полностью автоматизированный эвцентрический, асинхронный, пятиосевой моторизованный столик может выдерживать массу образца до 2 килограммов включительно, это позволяет исследовать массивные образцы без их предварительного деления.

Новая рабочая среда микроскопа удобна и интуитивно понятна. Управление микроскопом может осуществляться с сенсорного экрана, что позволяет легко и быстро выполнять нужные действия

В микроскопе JEOL JSM-IT300 реализована функция съемки образцов в режиме низкого вакуума. Давление в камере образцов может варьироваться в пределах от 10 до 650 Па. Это позволяет проводить исследование непроводящих и биологических образцов без предварительной пробоподготовки.

Разрешение в режиме HV3.0нм (30кВ), 15.0нм (1.0кВ)
Разрешение в режиме LV4.0нм (30кВ BED)
УвеличениеОт ×5 до ×300 000
Предустановленные увеличения6 уровней (Устанавливается пользователем)
Электронная пушкаПолностью автоматическая и ручная настройки доступны
КатодПре-центрированный на заводе вольфрамовый
Ускоряющее напряжениеОт 0.3кВ до 30кВ
Ток зондаОт 1пА до 1μА
Давление в режиме LVОт 10 до 650Па
Линза конденсораПрецизионная увеличивающая линза конденсора
Объективная линзаКоническая линза
Диафрагма объективной линзыТрехступенчатая
Точная настройка по координатам Х и У доступна.
Память астигматизмаДоступна
Сдвиг изображения±50 μm (WD 10мм)
Автоматические функцииНастройка Фокуса,
Яркости/контрастности,
Коррекция астигматизма
Замена образцаЗамена через дверь камеры образцов
Максимальный образецДиаметр: 200мм 
Высота: 80мм (WD 10мм
Предметный столикЭвцентрический гониометрический столик
(5-осевой привод столика)
X: 125мм, Y: 100мм, Z: 80мм
Наклон: от -10 до 90°; Вращение: 360°
РецептыДоступна
ДоступныИзображение во вторичных электронах, изображение REF; Изображения в отраженных электронах: Compo, Topo и Shadow
Вспомогательные окна (Snap shot)6 снимков (Можно сохранить, загрузить и воспроизвести условия съёмки)
Операционная системаWindows®7
Монитор23-дюймовая сенсорная панель
(Разрешение экрана 1920×1080
Количество пикселей640×480; 1280×960; 
2560×1920 или 5120×3840
Режим демонстрации изображенияМножественный, На весь экран, Окно изменяемого размера, Сложение сигналов
Таблица цветового соответствияДоступна 
(Гамма-коррекция, псевдоцветной и др.)
ГистограммаДоступна
Функция измеренийДоступна (Расстояние между двумя точками,
расстояние между двумя линиями, диаметр, и др.)
3D измеренияДоступны*2
Анаглифическое изображениеДоступна
Программа создания отчетовВстроена
Выбор языка интерфейсаВозможен в UI (Японский/английский)
Формат файлов изображенийBMP,TIFF,JPEG
Автосохранение изображенияДоступна
Система откачкиПолностью автоматическая
Турбомолекулярный (TMP) и 1 или 2*1 роторных (RP) насосов
Переключение вакуумных режимов (HV/LV)Доступно из программы (UI)

Примечание: Windows зарегистрированная торговая марка корпорации Microsoft.

Основные опции

  • Детектор отраженных электронов*1
  • Детектор вторичных электронов
  • Анализатор ориентации кристаллов
  • Вакуумный шлюз (Камера замены образцов)
  • Система навигации образца (SNS)
  • Камераскоп
  • Пульт управления
  • Электронная пушка из LaB6
  • Стол оператора
  • Энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (EDS)
  • Программа 3D измерений*2
  • Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр (WDS)

*1 Присутствует в базовой комплектации LV/LA
*2 Необходимо специальное программное обеспечение

* Спецификация может быть изменена без предварительного уведомления. 

Лабораторное и научное оборудование:
  • Ш2-12ТМ Измеритель диэлектрических параметров трансформаторного масла
  • Диатранс Комплекс для измерения электрических характеристик масел
  • Микротвердомер ПМТ-3М
  • Монохроматор МДР-204, МДР-206
  • Металлографический микроскоп МИМ-10
  • АИП-21 Оборудование анализа нефтепродуктов
  • Калориметр В-08-МА
  • Рефрактометр РП-2В
  • Рефрактометр ABBE Atago 2T-HI
  • Рефрактометр ABBE Atago 2T-LO
  • Рефрактометр ABBE Atago 1T-LO
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M2
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M4
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M2|1550
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M4|1550
  • Olympus BX61 Микроскоп исследовательский
  • Olympus IX71 Микроскоп исследовательский
  • Olympus IX81 Микроскоп исследовательский
  • Автоматический цифровой рефрактометр Atago RX-007 alpha
  • Рефрактометр Atago RX-7000 alpha
  • Автоматический цифровой рефрактометр Atago RX-9000 alpha
  • Binder KBF LQC 240 Климатическая камера постоянных условий
  • Binder KBF LQC 720 Климатическая камера постоянных условий
  • Espec SH-242 Климатическая камера
  • Микровизор mVizo-103
  • Микроскоп Биомед 6 ПО
  • JEOL JIB-4610F Растровый электронный микроскоп
  • ПОИСК-600 Поверочный и измерительный комплекс
  • АИМ-90А Аппарат испытания масла
  • РМГ-МГ4 Машина испытательная
  • Olympus BX53 Микроскоп исследовательский, объективы План Ахромат 10х, 40х, 100хМИ
  • Olympus BX53 Микроскоп исследовательский, объективы План Полу Апохромат (План Флуорит) 10х, 40х, 100хМИ
  • Olympus BX63 Микроскоп исследовательский
  • Surgitron Dual EMC 90 Радиохирургический аппарат
  • Surgitron DF S5 Высокочастотный радиоволновой хирургический генератор
  • Микроскоп Метам РВ-34
  • Микроскоп ММР-2
  • Микровизор mVizo-101
  • Безэховый шкаф для электромагнитного излучения MY1510
  • Безэховый шкаф для электромагнитного излучения MY5220
  • Шкаф для электромагнитного излучения ME8661A
  • Анализатор влажности Sartorius МА-35
  • Анализатор влажности Sartorius МА-100
  • Анализатор влажности Sartorius МА-150
  • Анализатор влажности MS-70 A&D
  • Проборазделочная машина ПА-10М
  • Плазменный аппарат Мультиплаз-3500
  • JEOL JSM-7500F Растровый электронный микроскоп
  • Дефектоскоп АКС А1212 Мастер Профи
  • JEOL JAMP-9510 Оже-микроанализатор
  • JEOL JSM-IT300 Растровый электронный микроскоп
  • JEOL JSM-7800F Растровый электронный микроскоп высокого разрешения
  • JEOL JSM-6510 Растровый электронный микроскоп
  • MS5201, MS5201i, MS5204, MS5204i Дифракционный монохроматор спектрограф
  • Olympus BX43 Микроскоп исследовательский, окуляры 10х/22, объективы 10х, 40х, 100хМИ ПланПолуАПОхромат
  • Olympus BX43 Микроскоп исследовательский, окуляры 10х/20, микрометр окулярный, объективы 10х, 40х, 100хМИ План C Ахромат
  • Olympus CKX31 Микроскоп лабораторный
  • Olympus CX31 Микроскоп лабораторный
  • Olympus CKX41 Микроскоп лабораторный
  • Espec SH-662 Климатическая камера
  • Измеритель температуры Hioki LR8400-20
  • JEOL JSM-7610F Растровый электронный микроскоп
  • Аналогово-цифровой преобразователь QMBox80-15
  • ИИРТ-5М Прибор для измерения индекса расплава термопластов
  • Измерительный микроскоп MarVision MM 320
  • ИМЧ-01 Измеритель мощности и частоты



  • Главная | Новости | Каталог оборудования | Услуги | Вопросы и ответы | Контакты | Прайс-лист
    Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика
    Copyright © 2000-2020. All Right Reserved. При копировании материала на другие ресурсы ссылка на www.servicepribor.ru обязательна.