ГлавнаяНовостиКаталог оборудованияУслугиВопросы и ответыКонтактыПрайс-лист
г. Москва, тел. +7 (495) 532-09-99
Время работы: 9:00 - 18:00 Пн-Пт
Контрольно измерительные приборы, электроизмерительные приборы, измерительные приборы, КИПиА, измерительное оборудование, испытательное оборудование, приборы для измерения, измерители
Каталог измерительных приборов
Антенны
Измерительные антенны

Продукция SONEL
Комплекты для испытания автоматических выключателей и релейных защит
Приборы для измерения параметров электроизоляции
Приборы для поиска мест электрических разрядов и утечек
Приборы для измерения времени и тока отключения УЗО
Приборы для измерения параметров петли короткого замыкания
Приборы для измерения параметров заземляющих устройств
Омметры, Микроомметры
Приборы для анализа качества электроэнергии
Приборы электроизмерительные многофункциональные
Приборы для поиска кабеля и мест повреждения кабеля
Ультрафиолетовые камеры
Пирометры
Люксметры
Эталонное оборудование SONEL

Радиоизмерительные приборы
Аудиоанализаторы
Анализаторы спектра
Аттенюаторы (в т.ч. Д1,Д2,Д3,Д5)
Анализаторы полупроводников
Анализаторы цепей
Генераторы сигналов
Измерители RLC, импеданса, индуктивности
Измерители АЧХ, шума и вибрации
Измерители КСВН (в т.ч. Р1,Р2,Р4)
Измерители модуляции и девиации частоты
Измерители мощности (в т.ч. М3)
Измерители параметров поля и антенн
Измерители нелинейных искажений
Измерители разности фаз
Источники питания (в т.ч. Б2,Б5...)
Расходомеры и уровнемеры
Осциллографы
Частотомеры, стандарты частоты
Вольтметры
Мультиметры, электроанализаторы
Лабораторное и научное оборудование
Тестеры для систем мобильной радиосвязи

Электроизмерительные приборы
Вольтамперметры
Измерительные мосты
Измерители сопротивления
Приборы комбинированные
Измерительные усилители
Меры и магазины
Испытательное оборудование
Комплекты измерительные
Трансформаторы, автотрансформаторы

Оборудование для систем и сетей связи
Приборы для систем и сетей связи

Дозиметрические приборы
Измерители мощности дозы

Генераторные лампы
Генераторные лампы (в т.ч. ГУ-36Б1, ГУ-...)

Тепловизоры
Тепловизоры

Приборы для диагностики кабельных линий и трубопроводов
Трассоискатели, течеискатели
Диагностика ADSL, Оптические рефлектометры
Измерители параметров кабельных линий (Рефлектометры)

Электронные нагрузки
Электронные нагрузки

Телекоммуникационное оборудование
Телекоммуникационное оборудование

Защита информации
Системы обнаружения оптических устройств
Системы оценки защищенности от утечки по техническим каналам
Сканирующие приемники

Трубопроводная арматура
Электроприводы трубопроводной арматуры
Задвижки с электроприводом
Клапаны регулирующие
КИПиА

Геодезическое оборудование
Геодезические GNSS приемники
Тахеометры
Нивелиры
Теодолиты
Сканирующие системы

Газоанализаторы
Газоанализаторы

Оснащение рабочих мест
Оснащение рабочих мест


Классификация радиоизмерительных приборов по ГОСТ 15094-69
Федеральный закон РФ 2008 года No.102-ФЗ “ Об обеспечении единства измерений”


JEOL JSM-6510 Растровый электронный микроскоп

Модель: JEOL JSM-6510 Растровый электронный микроскоп
Наличие: на складе
Задать вопрос по товару

JEOL JSM-6510 Растровый электронный микроскоп

Госреестр № 53251-13

Многоцелевой РЭМ с термовольфрамовым катодом. Для исследования образцов практически любых типов, в широких диапазонах ускоряющих напряжений и токов пучка, в режиме высокого или низкого вакуума.

Фирма-изготовитель: JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory, Джеол)

JEOL Ltd. — мировой лидер в производстве и разработке сканирующих (растровых) электронных микроскопов(РЭМ), просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), анализаторов поверхности (ОЖЕ микроанализаторы, фотоэлектронные спектрометры, электронно-зондовые микроанализаторы EPMA), системы с фокусированным ионным пучком, масс-спектрометров, спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и систем электронно-лучевой литографии для производства полупроводниковых приборов.

Основные преимущества:

• Надежная электронно-оптическая колонна JSM-6510LV, использующая конденсорную линзу специальной конструкции, позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса; 

• Возможность выбора оператором катода в зависимости от решаемых в данный момент задач: дешевый вольфрамовый для рутинной работы или LaB6 для тонких исследований; 
• Катоды предварительно отцентрированы на заводе; их замена занимает считанные минуты; 
• Возможность выбора между дешевым и долговечным диффузионным насосом либо безмасляным турбомолекулярным; 
• Полностью автоматизированная и хорошо защищенная от различных нештатных ситуаций вакуумная система с двумя форвакуумными насосами; 
• Простой и интуитивно понятный пользовательский интерфейс под ОС Windows с хорошо развитой системой подсказок и обучающих пособий; 
• Программа Smile View для быстрого создания отчетов; 
• Использование шлюзовой камеры снижает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления, продлевает срок службы катода и диафрагмы объективной линзы в несколько раз; 

• Большая камера образцов позволяет работать с объектами диаметром до 150 мм, а также устанавливать множество разнообразных аналитических приставок (энергодисперсионный спектрометр, спектрометр с дисперсией по длинам волн, детектор дифракции отраженных электронов, детектор катодолюминесценции, рамановский спектрометр и т.п.)  

Многопользовательская система. С помощью новой системы сканирования можно работать на очень малых увеличениях. Электронная пушка полностью автоматизирована. При изменении ускоряющего напряжения не требуется каких-либо дополнительных настроек. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.

Низковакуумная модель РЭМ JSM-6510LV имеет, в дополнение к обычному, высоковауумному, низковакуумный режим работы. В таком режиме можно изучать непроводящие образцы безо  всякого препарирования, а затем проанализировать их с помощью энергодисперсионного  спектрометра.

 

Эвцентрический столик образца не меняет поле зрения (точку интереса) и фокусировку при вращении и наклоне образца. Столик  предназначен для наблюдения особенностей строения поверхности образцов, в том числе,  под разными углами. Вы можете наблюдать третье измерение – глубину образца и строить трехмерные изображения, путём получения серий  стереоизображений. Качество стереоизображений напрямую зависит от того, насколько точно сохраняется исходное положение образца при его вращении и наклоне.

На колонну микроскопа можно повесить одновременно от одного до трех дополнительных спектрометров (например, спектрометр с дисперсией по энергиям, по длинам волн и детектор картин дифракции отраженных электронов). 

Основные технические характеристики:

 

Пространственное разрешение

3 нм (2,5нм с катодом LaB6)

Ускоряющее напряжениеот 0,3кВ до 30 кВ
Диапазон увеличенийот х5 до х300 000
Максимальный размер образцадиаметр до 150 мм, высота до 48 мм
Виды контраставторичные электроны: топографический контраст ; отражённые электроны: композиционный, топографический, теневой контрасты.
КатодW или LaB6 (опция)
Столик образцовэвцентрический моторизация до 5 осей с компьютерным управлением (опция)диапазон перемещений: Х – 80 мм, Y – 40 мм, Z – от 5 до 48 мм. наклон: от -10 до +90 градусов, вращение 360 градусов.
Операционная системадля MS Windows XP Pro
Лабораторное и научное оборудование:
  • Ш2-12ТМ Измеритель диэлектрических параметров трансформаторного масла
  • Диатранс Комплекс для измерения электрических характеристик масел
  • Микротвердомер ПМТ-3М
  • Монохроматор МДР-204, МДР-206
  • Металлографический микроскоп МИМ-10
  • АИП-21 Оборудование анализа нефтепродуктов
  • Калориметр В-08-МА
  • Рефрактометр РП-2В
  • Рефрактометр ABBE Atago 2T-HI
  • Рефрактометр ABBE Atago 2T-LO
  • Рефрактометр ABBE Atago 1T-LO
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M2
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M4
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M2|1550
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M4|1550
  • Olympus BX61 Микроскоп исследовательский
  • Olympus IX71 Микроскоп исследовательский
  • Olympus IX81 Микроскоп исследовательский
  • Автоматический цифровой рефрактометр Atago RX-007 alpha
  • Рефрактометр Atago RX-7000 alpha
  • Автоматический цифровой рефрактометр Atago RX-9000 alpha
  • Binder KBF LQC 240 Климатическая камера постоянных условий
  • Binder KBF LQC 720 Климатическая камера постоянных условий
  • Espec SH-242 Климатическая камера
  • Микровизор mVizo-103
  • Микроскоп Биомед 6 ПО
  • JEOL JIB-4610F Растровый электронный микроскоп
  • ПОИСК-600 Поверочный и измерительный комплекс
  • АИМ-90А Аппарат испытания масла
  • РМГ-МГ4 Машина испытательная
  • Olympus BX53 Микроскоп исследовательский, объективы План Ахромат 10х, 40х, 100хМИ
  • Olympus BX53 Микроскоп исследовательский, объективы План Полу Апохромат (План Флуорит) 10х, 40х, 100хМИ
  • Olympus BX63 Микроскоп исследовательский
  • Surgitron Dual EMC 90 Радиохирургический аппарат
  • Surgitron DF S5 Высокочастотный радиоволновой хирургический генератор
  • Микроскоп Метам РВ-34
  • Микроскоп ММР-2
  • Микровизор mVizo-101
  • Безэховый шкаф для электромагнитного излучения MY1510
  • Безэховый шкаф для электромагнитного излучения MY5220
  • Шкаф для электромагнитного излучения ME8661A
  • Анализатор влажности Sartorius МА-35
  • Анализатор влажности Sartorius МА-100
  • Анализатор влажности Sartorius МА-150
  • Анализатор влажности MS-70 A&D
  • Проборазделочная машина ПА-10М
  • Плазменный аппарат Мультиплаз-3500
  • JEOL JSM-7500F Растровый электронный микроскоп
  • Дефектоскоп АКС А1212 Мастер Профи
  • JEOL JAMP-9510 Оже-микроанализатор
  • JEOL JSM-IT300 Растровый электронный микроскоп
  • JEOL JSM-7800F Растровый электронный микроскоп высокого разрешения
  • JEOL JSM-6510 Растровый электронный микроскоп
  • MS5201, MS5201i, MS5204, MS5204i Дифракционный монохроматор спектрограф
  • Olympus BX43 Микроскоп исследовательский, окуляры 10х/22, объективы 10х, 40х, 100хМИ ПланПолуАПОхромат
  • Olympus BX43 Микроскоп исследовательский, окуляры 10х/20, микрометр окулярный, объективы 10х, 40х, 100хМИ План C Ахромат
  • Olympus CKX31 Микроскоп лабораторный
  • Olympus CX31 Микроскоп лабораторный
  • Olympus CKX41 Микроскоп лабораторный
  • Espec SH-662 Климатическая камера
  • Измеритель температуры Hioki LR8400-20
  • JEOL JSM-7610F Растровый электронный микроскоп
  • Аналогово-цифровой преобразователь QMBox80-15
  • ИИРТ-5М Прибор для измерения индекса расплава термопластов
  • Измерительный микроскоп MarVision MM 320
  • ИМЧ-01 Измеритель мощности и частоты



  • Главная | Новости | Каталог оборудования | Услуги | Вопросы и ответы | Контакты | Прайс-лист
    Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика
    Copyright © 2000-2020. All Right Reserved. При копировании материала на другие ресурсы ссылка на www.servicepribor.ru обязательна.