ГлавнаяНовостиКаталог оборудованияУслугиВопросы и ответыКонтактыПрайс-лист
г. Москва, тел.
Время работы: 9:00 - 18:00 Пн-Пт
Контрольно измерительные приборы, электроизмерительные приборы, измерительные приборы, КИПиА, измерительное оборудование, испытательное оборудование, приборы для измерения, измерители
Каталог измерительных приборов
Антенны
Измерительные антенны

Продукция SONEL
Комплекты для испытания автоматических выключателей и релейных защит
Приборы для измерения параметров электроизоляции
Приборы для поиска мест электрических разрядов и утечек
Приборы для измерения времени и тока отключения УЗО
Приборы для измерения параметров петли короткого замыкания
Приборы для измерения параметров заземляющих устройств
Омметры, Микроомметры
Приборы для анализа качества электроэнергии
Приборы электроизмерительные многофункциональные
Приборы для поиска кабеля и мест повреждения кабеля
Ультрафиолетовые камеры
Пирометры
Люксметры
Эталонное оборудование SONEL

Радиоизмерительные приборы
Аудиоанализаторы
Анализаторы спектра
Аттенюаторы (в т.ч. Д1,Д2,Д3,Д5)
Анализаторы полупроводников
Анализаторы цепей
Генераторы сигналов
Измерители RLC, импеданса, индуктивности
Измерители АЧХ, шума и вибрации
Измерители КСВН (в т.ч. Р1,Р2,Р4)
Измерители модуляции и девиации частоты
Измерители мощности (в т.ч. М3)
Измерители параметров поля и антенн
Измерители нелинейных искажений
Измерители разности фаз
Источники питания (в т.ч. Б2,Б5...)
Расходомеры и уровнемеры
Осциллографы
Частотомеры, стандарты частоты
Вольтметры
Мультиметры, электроанализаторы
Лабораторное и научное оборудование
Тестеры для систем мобильной радиосвязи

Электроизмерительные приборы
Вольтамперметры
Измерительные мосты
Измерители сопротивления
Приборы комбинированные
Измерительные усилители
Меры и магазины
Испытательное оборудование
Комплекты измерительные
Трансформаторы, автотрансформаторы

Оборудование для систем и сетей связи
Приборы для систем и сетей связи

Дозиметрические приборы
Измерители мощности дозы

Генераторные лампы
Генераторные лампы (в т.ч. ГУ-36Б1, ГУ-...)

Тепловизоры
Тепловизоры

Приборы для диагностики кабельных линий и трубопроводов
Трассоискатели, течеискатели
Диагностика ADSL, Оптические рефлектометры
Измерители параметров кабельных линий (Рефлектометры)

Электронные нагрузки
Электронные нагрузки

Телекоммуникационное оборудование
Телекоммуникационное оборудование

Защита информации
Системы обнаружения оптических устройств
Системы оценки защищенности от утечки по техническим каналам
Сканирующие приемники

Трубопроводная арматура
Электроприводы трубопроводной арматуры
Задвижки с электроприводом
Клапаны регулирующие
КИПиА

Геодезическое оборудование
Геодезические GNSS приемники
Тахеометры
Нивелиры
Теодолиты
Сканирующие системы

Газоанализаторы
Газоанализаторы

Оснащение рабочих мест
Оснащение рабочих мест


Классификация радиоизмерительных приборов по ГОСТ 15094-69
Федеральный закон РФ 2008 года No.102-ФЗ “ Об обеспечении единства измерений”


JEOL JSM-7610F Растровый электронный микроскоп

Модель: JEOL JSM-7610F Растровый электронный микроскоп
Наличие: на складе
Задать вопрос по товару

JEOL JSM-7610F Растровый электронный микроскоп

Сверхвысокого разрешения с катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). Комплектуется шлюзовой камерой. Возможность работы с большими образцами (до 200 мм в диаметре). 

JSM-7610F – это растровый электронный микроскоп с катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). Благодаря такой комбинации этот РЭМ одинаково хорош как для работы с диэлектриками или чувствительными к воздействию электронного луча образцами при малых ускоряющих напряжениях, так и для проведения экспериментов, требующих высоких токов пучка (элементного анализа с использованием спектрометра с волновой дисперсией, получения картин дифракции отраженных электронов, катодолюминесцентных исследований и т.п.).

JSM-7610F комплектуется шлюзовой камерой, что существенно снижает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления, продлевает срок службы катода и диафрагм в несколько раз, и в то же время не исключает возможность работы с большими образцами (до 200 мм в диаметре).

JSM-7610F является прекрасным инструментом для решения задач в области исследований наноматериалов, классического материаловедения, анализа качества металлургической продукции, медицины, биологии и др.

Основные преимущества:

• Стабильная, высоконадежная электронно-оптическая колонна JSM-7610F, использующая объективную линзу открытого типа, обеспечивает высокое разрешение (0,8 нм при 30 кВ в ПРЭМ-режиме и 1,0 нм при 15 кВ в режиме регистрации вторичных электронов); 

• Термополевой катод, известный также как катод Шоттки, обеспечивает высокие (свыше 200 нА) и стабильные токи пучка, что позволяет использовать JSM-7610F и в качестве аналитического РЭМ; 
• Специальная конструкция первой конденсорной линзы микроскопа позволяет намного более эффективно собирать эмитированные катодом электроны и обеспечивает длительный срок службы электронной пушки (более 3 лет); 
• Доступность большого количества детекторов различных типов, в том числе LABE, RBEI, SEI, LEI. Низкоугловой детектор отраженных электронов (LABE) прекрасно работает при малых энергиях электронного пучка (вплоть до 100 эВ), позволяя получать информацию и об однородности состава, и о топологии поверхности образца, а также решает проблему с накоплением заряда на поверхности диэлектрических образцов; 
• Встроенный в электронно-оптическую колонну r-фильтр позволяет либо разделять сигналы от вторичных и обратнорассеянных электронов, либо смешивать их между собой в заданных пропорциях; 
• Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму, существенно увеличивает долю электронов, достигающих поверхности образца, позволяя тем самым экономнее расходовать ресурс эмиттера; 
• Режим торможения пучка (Gentle Beam), который замедляет электроны перед падением на поверхность образца, сильно снижает повреждения, наносимые пучком, а также позволяет избежать зарядки образцов с плохой электропроводностью; 
• Доступность различных типов шлюзов позволяют выбрать оптимальный, включая шлюз с автосменщиком образцов; 
• Устанавливаемая в камере образцов криогенная ловушка уменьшает загрязнение колонны при работе с испаряющимися под электронным пучком образцами и, тем самым, продлевает ресурс электронно-оптической колонны; 
• Большая камера образцов позволяет работать с объектами диаметром до 200 мм, а также одновременно устанавливать множество разнообразных аналитических приставок (энергодисперсионный спектрометр, спектрометр с дисперсией по длинам волн, детектор дифракции отраженных электронов, детектор катодолюминесценции, рамановский спектрометр и т.п.)
 
ПараметрыЗначения
Тип источника электроновэмиттер Шоттки
Пространственное разрешение1,0 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, обычный режим) 0,8 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 15 кВ, низковольтный режим) 1,5 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ, обычный режим) 1,2 нм гарантированно (ускоряющее напряжение 1 кВ
Энергия электронного лучаот 10 эВ до 30 кэВ
Увеличениеот 25 до 1 000 000 крат
Ток луча200 нА максимум
Аналитические приставки - опцииЭДС, ВДС, ДОЭ, анализаторы катодолюминесценции
Максимальный размер образцадиаметр до 100 мм
Столик образцовОсь X: 70 мм Ось Y: 50 мм Ось Z: от 2 до 41 мм (непрерывно) Наклон: от –5 до 70° Вращение: 360° непрерывно
Система вакуумной откачкитурбомолекулярная и ионная
Система шлюзованияесть
Лабораторное и научное оборудование:
  • Ш2-12ТМ Измеритель диэлектрических параметров трансформаторного масла
  • Диатранс Комплекс для измерения электрических характеристик масел
  • Микротвердомер ПМТ-3М
  • Монохроматор МДР-204, МДР-206
  • Металлографический микроскоп МИМ-10
  • АИП-21 Оборудование анализа нефтепродуктов
  • Калориметр В-08-МА
  • Рефрактометр РП-2В
  • Рефрактометр ABBE Atago 2T-HI
  • Рефрактометр ABBE Atago 2T-LO
  • Рефрактометр ABBE Atago 1T-LO
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M2
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M4
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M2|1550
  • Рефрактометр ABBE многоволновой Atago DR-M4|1550
  • Olympus BX61 Микроскоп исследовательский
  • Olympus IX71 Микроскоп исследовательский
  • Olympus IX81 Микроскоп исследовательский
  • Автоматический цифровой рефрактометр Atago RX-007 alpha
  • Рефрактометр Atago RX-7000 alpha
  • Автоматический цифровой рефрактометр Atago RX-9000 alpha
  • Binder KBF LQC 240 Климатическая камера постоянных условий
  • Binder KBF LQC 720 Климатическая камера постоянных условий
  • Espec SH-242 Климатическая камера
  • Микровизор mVizo-103
  • Микроскоп Биомед 6 ПО
  • JEOL JIB-4610F Растровый электронный микроскоп
  • ПОИСК-600 Поверочный и измерительный комплекс
  • АИМ-90А Аппарат испытания масла
  • РМГ-МГ4 Машина испытательная
  • Olympus BX53 Микроскоп исследовательский, объективы План Ахромат 10х, 40х, 100хМИ
  • Olympus BX53 Микроскоп исследовательский, объективы План Полу Апохромат (План Флуорит) 10х, 40х, 100хМИ
  • Olympus BX63 Микроскоп исследовательский
  • Surgitron Dual EMC 90 Радиохирургический аппарат
  • Surgitron DF S5 Высокочастотный радиоволновой хирургический генератор
  • Микроскоп Метам РВ-34
  • Микроскоп ММР-2
  • Микровизор mVizo-101
  • Безэховый шкаф для электромагнитного излучения MY1510
  • Безэховый шкаф для электромагнитного излучения MY5220
  • Шкаф для электромагнитного излучения ME8661A
  • Анализатор влажности Sartorius МА-35
  • Анализатор влажности Sartorius МА-100
  • Анализатор влажности Sartorius МА-150
  • Анализатор влажности MS-70 A&D
  • Проборазделочная машина ПА-10М
  • Плазменный аппарат Мультиплаз-3500
  • JEOL JSM-7500F Растровый электронный микроскоп
  • Дефектоскоп АКС А1212 Мастер Профи
  • JEOL JAMP-9510 Оже-микроанализатор
  • JEOL JSM-IT300 Растровый электронный микроскоп
  • JEOL JSM-7800F Растровый электронный микроскоп высокого разрешения
  • JEOL JSM-6510 Растровый электронный микроскоп
  • MS5201, MS5201i, MS5204, MS5204i Дифракционный монохроматор спектрограф
  • Olympus BX43 Микроскоп исследовательский, окуляры 10х/22, объективы 10х, 40х, 100хМИ ПланПолуАПОхромат
  • Olympus BX43 Микроскоп исследовательский, окуляры 10х/20, микрометр окулярный, объективы 10х, 40х, 100хМИ План C Ахромат
  • Olympus CKX31 Микроскоп лабораторный
  • Olympus CX31 Микроскоп лабораторный
  • Olympus CKX41 Микроскоп лабораторный
  • Espec SH-662 Климатическая камера
  • Измеритель температуры Hioki LR8400-20
  • JEOL JSM-7610F Растровый электронный микроскоп
  • Аналогово-цифровой преобразователь QMBox80-15
  • ИИРТ-5М Прибор для измерения индекса расплава термопластов
  • Измерительный микроскоп MarVision MM 320
  • ИМЧ-01 Измеритель мощности и частоты



  • Главная | Новости | Каталог оборудования | Услуги | Вопросы и ответы | Контакты | Прайс-лист
    Рейтинг@Mail.ru Яндекс.Метрика
    Copyright © 2000-2020. All Right Reserved. При копировании материала на другие ресурсы ссылка на www.servicepribor.ru обязательна.